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粉體學(xué)-粒徑的測定方法（篩分法、顯微鏡法、庫爾特計數(shù)法、沉降法、比表面積法） 1、顯微鏡法本法主要測定幾何學(xué)粒徑。光學(xué)顯微鏡可以測定微米級的粒徑，電子顯微鏡可以測定納米級的粒徑。本法方便、可靠，能用于測定散劑、混懸劑、乳劑、混懸型軟膏劑等粉體粒徑，可測粒徑范圍為0.2～100μm。2、篩分法其是粒徑與粒徑分布測量中使用zui早、應(yīng)用zui廣，且簡單快速的方法。即利用篩孔將粉體機械阻擋的一種分級方法。將篩子由粗到細(xì)按篩號順序上下排列，將一定量的粉體樣品置于zui上層，振動一定
